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RTESP-300,轻敲针尖,40N/M,Bruker
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商品描述:

规格参数

Shape Resonant Freq. kHz Spring Const. N/m Length µm Width µm
Nom. Min. Max. Nom. Min. Max. Nom. Min. Max. Nom. Min. Max.
Rectangular 300 200 400 40 20 80 125 115 135 40 38 42

Tip Specification

This probe uses a rotated tip to provide a more symmetric representation of features over 200nm.
 
 
 
 
Geometry: Rotated (Symmetric)
Tip Height (h): 10 - 15µm
Front Angle (FA): 15 ± 2º
Back Angle (BA): 25 ± 2 º
Side Angle (SA): 17.5 ± 2 º
Tip Radius (Nom): 8 nm
Tip Radius (Max): 12 nm
Tip SetBack (TSB)(Nom): 9.5 µm
Tip Set Back (TSB)(RNG): 7 - 12 µm
 

Cantilever Specification

 
 
 
 
 
 
Material: 0.01 - 0.025 Ωcm Antimony (n) doped Si
Geometry: Rectangular
Cantilevers Number: 1
Cantilever Thickness (Nom): 3.4 µm
Cantilever Thickness (RNG): 2.65 - 4.15 µm
规格参数
  • 商品货号: A010114
  • 商品品牌: Bruker
  • 商品重量: 100克
  • 上架时间: 2017-12-01
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